SELÇUK İLTEK Tanıtım Seminerleri 2025/5: Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), Stylus Profilometre, Optik Temas Açısı Cihazları ve Uygulamaları

 İLTEK bünyesindeki Yüzey Karakterizasyon Laboratuvarında bulunan; sivriltilmiş bir iğne uç ile yüzeyin yüksek çözünürlüklü üç boyutlu görüntülenmesini sağlayan ATOMİK KUVVET MİKROSKOBU cihazı, ince filmlerin kalınlık ölçümleri, yarı iletken sistemlerde işlenmiş yüzeylerin pürüzsüzlük değerlendirmesinde kullanılan STLUS PROFİLOMETRE cihazı, yüzeylerin ıslanabilirliği, sıvı emilimi, yayılımı, tutulumu gibi yüzeyin fiziksel özellikleri hakkında bilgiler veren aynı zamanda yüzey gerilimi ve serbest yüzey enerjisi ölçümlerinin yapıldığı OPTİK TEMAS AÇISI cihazları hakkında temel bilgilerin verilmesi ve disiplinler arası uygulama alanlarının anlatılması amaçlanmaktadır.

Çevrimiçi Toplantı Linki: https://zoom.us/j/95041598251