MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ
KİMYA MÜHENDİSLİĞİ
Dersin Adı   İLERİ ANALİZ TEKNİKLERİ
Dönemi Dersin Kodu Teorik Saat / Uygulama Saati AKTS
6 1216615 2,00 / 0,00 5,00
Dersin Düzeyi Lisans
Dersin Dili Türkçe
Dersin Veriliş Biçimi Yüz Yüze
Dersin Koordinatörü Doç. Dr. Mahmut KUŞ
Koordinator E-mail mahmutkus1 gmail.com
Öğretim Elemanı
Yardımcı Öğretim Elemanları
Dersin Amacı Gün geçtikçe analiz tekniklerinde hızlı bir gelişim sağlanmaktadır. Hammadde- ürün analizleri yanında kimyasal proseslerin takibinde kullanılan ara ürün analizlerinde kullanılan metodların anlatılması öğrenci kalitesinin artması yönünden oldukça önem taşımaktadır. Bu derste öğrencilere Atomik Güç mikroskobu, Taramalı elektron mikroskobu ve konfokal mikroskop gibi mikroskobik tekniklerin öğretilmesi amaçlanmıştır.
Temel Bilimler Mühendislik Bilimleri Sosyal Bilimler Eğitim Bilimleri Sanat Bilimleri Sağlık Bilimleri Tarım Bilimleri
50 50 0 0 0 0 0
DERS YÖNTEM VE TEKNİKLERİ
Ders sınıf ortamında karşılıklı konu anlatımı, ödevler ve tartışma şeklinde gerçekleştirilecektir.
HAFTA DERS İÇERİĞİ KAYNAK
1 Atomik güç mikroskobu prensipleri Peter Eato, Paul West, Atomic Force Microscopy, Oxford Un., 2010, 978-0-19-957045-4
2 Moleküller arası etkileşimler Peter Eato, Paul West, Atomic Force Microscopy, Oxford Un., 2010, 978-0-19-957045-4
3 İletkenlik, iletken, yarıiletken ve yalıtkan materyaller, turbomoleküler ve difuzyon pompaları, hasas optik sistemler ve uygulamaları Peter Eato, Paul West, Atomic Force Microscopy, Oxford Un., 2010, 978-0-19-957045-4
4 Laser ışınımı tanımı, diyot ağ dedektörler, tipleri Peter Eato, Paul West, Atomic Force Microscopy, Oxford Un., 2010, 978-0-19-957045-4
5 Çalışma modları Peter Eato, Paul West, Atomic Force Microscopy, Oxford Un., 2010, 978-0-19-957045-4
6 Çalışma modları devamı Peter Eato, Paul West, Atomic Force Microscopy, Oxford Un., 2010, 978-0-19-957045-4
7 Uygulamalar Peter Eato, Paul West, Atomic Force Microscopy, Oxford Un., 2010, 978-0-19-957045-4
8 Vize Sınavı
9 Konfokal mikroskobun prensipleri Ray F. Egerton, Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM , Springer, 2005, 978-0-387-26016-7
10 Lensler ve optik mikroskoplar Ray F. Egerton, Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM , Springer, 2005, 978-0-387-26016-7
11 CCD ve PMT dedektörler Ray F. Egerton, Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM , Springer, 2005, 978-0-387-26016-7
12 Pulse lazer sistemleri, uygulamalar Ray F. Egerton, Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM , Springer, 2005, 978-0-387-26016-7
13 Elektron mikroskobu ve katod tüpleri Ray F. Egerton, Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM , Springer, 2005, 978-0-387-26016-7
14 Madde elektron etkileşimi Ray F. Egerton, Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM , Springer, 2005, 978-0-387-26016-7
15 Final Sınavı
DEĞERLENDİRME SİSTEMİ   Ara Sınav Final
  Sayı Katkı Payı Sayı Katkı Payı  
Yarıyıl İçi Çalışmaları : - - - -
Devam/Katılım : - - - -
Uygulamalı Sınav : - - - -
Derse Özgü Staj : - - - -
Küçük Sınav : - - - -
Ödev : - - - -
Sunum ve Seminer : - - - -
Projeler : - - - -
Atölye/Laboratuvar Uygulamaları : - - - -
Vaka Çalışmaları : - - - -
Arazi Çalışmaları : - - - -
Klinik Çalışmaları : - - - -
Diğer Çalışmaları : - - - -
Ara Sınav   1 40 - -
Final   - - 1 60
AKTS İŞ YÜKÜ TABLOSU   Sayı Süre
Ders Süresi : 15 2
Sınav Dışı Ders Çalışma Süresi : 1 5
Sunum ve Seminer Hazırlama : 13 4
Derse Özgü Staj : - 0
Atölye/Laboratuvar Uygulamaları : - -
Arazi Çalışmaları : - -
Vaka Çalışmaları : - -
Projeler : - -
Ödev : 3 4
Küçük Sınavlar : 3 3
Ara Sınav : 1 25
Final : 1 25
DERSİN AKTS KREDİSİ 5
No DERS ÖĞRENİM ÇIKTISI KATKISI (*)
D.Ö.Ç. 1 1. Öğrenci optik sistemleri öğrenir 4
D.Ö.Ç. 2 2. Öğrenci mikroskobik teknikleri öğrenir 4
D.Ö.Ç. 3 3. Öğrenci optik sistemler dışındaki mikroskob tekniklerini öğrenir 4
D.Ö.Ç. 4 4. Öğrenci optik sistemleri sınıflandırmayı öğrenir 4
D.Ö.Ç. 5 5. Öğrenci yüzeyleri nasıl analiz edeceğini öğrenir 4
D.Ö.Ç. 6 6. Öğrenci dedektörlerin nerede ve nasıl kullanılabilceğini öğrenir 3
D.Ö.Ç. 7 7. Öğrenci malzeme analizini öğrenir 3
D.Ö.Ç. 8 8. Öğrenci malzemeye ve ihtiyaca göre mikroskobik tekniği seçebilir 3
D.Ö.Ç. 9 9. Öğrenci mikroskobik görüntüleri yorumlayabilir 4
D.Ö.Ç. 10 10. Öğrenci nanometrik düzeyde analiz yapabilir 4
* 1: Zayıf - 2: Orta - 3: İyi - 4: Çok İyi
PROGRAM ÇIKTISI VE DERS ÖĞRENİM ÇIKTISI İLİŞKİ MATRİSİ

DÖÇ1DÖÇ2DÖÇ3DÖÇ4DÖÇ5DÖÇ6DÖÇ7DÖÇ8DÖÇ9DÖÇ10DÖÇ11DÖÇ12DÖÇ13DÖÇ14DÖÇ15DÖÇ16DÖÇ17DÖÇ18DÖÇ19DÖÇ20
PÇ1
PÇ2
PÇ3
PÇ4
PÇ5
PÇ6
PÇ7
PÇ8
PÇ9
PÇ10
PÇ11
PÇ12
PÇ13
PÇ14
PÇ15
PÇ16
PÇ17
PÇ18
PÇ19
PÇ20